Год выпуска
2010
Страна
Россия
Производитель
Институт спектроскопии РАН
Область применения
- Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений
- Регистрация спектров кругового дихроизма
Особенности
- Спектральный диапазон длин волн – 220..750 нм
- Спектральное разрешение по длинам волн – не более 3,5 нм
- Погрешность установки длины волны – ±2 нм
- Время накопления сигнала – 0,1..1000 с
- Шаг сканирования по спектру – 0,1..100 нм
- Порог чувствительности при измерении концентрации камфорсульфоновой кислоты – не более 1,5 мкг/мл
- Предел среднеквадратичного отклонения случайной составляющей допускаемой основной относительной погрешности – не более 20 %
- Пределы допускаемой основной относительной составляющей систематической погрешности – ±20 %
- Погрешности установления температуры в кювете – ±1 °С